Nicomp 380系列儀器的主要優(yōu)點是其高分辨率，其可以辨析出非常接近的兩個粒徑分布基團(tuán)，甚至可以從主峰中剔除少數(shù)粒子帶來的雜質(zhì)峰，這些都?xì)w功于其算法是一種高分辨率多峰去卷積算法。

在研究和分析納米級顆粒材料以及確定膠體穩(wěn)定性方面，高分辨率的特性顯得尤為重要。

下面是應(yīng)用Nicomp380系列儀器可以輕松辨析復(fù)雜體系進(jìn)行研究的兩個案例：

案例一 NICOMP 380納米粒徑分析儀的多峰分布實例

上圖所示是由30%的220 nm和70% 的340nm標(biāo)準(zhǔn)乳液混合在一起所測得的數(shù)據(jù)。根據(jù)高斯算法得到的一個假正態(tài)分布粒徑結(jié)果—其給出一個峰值在288nm處的單峰模型。

解決方案：

Nicomp 380DLS正確地檢測出了兩個分布峰，分別位于230nm和345nm處，體積分布顯示230 nm的標(biāo)準(zhǔn)乳膠約占38%，345 nm標(biāo)準(zhǔn)乳膠約占62%。請注意：Nicomp 380也指出了此樣品存在較高的Chi Square（卡方值），當(dāng)卡方值較大時，使用高斯分析法分析該樣品是不合適的。

案例二 NICOMP 380納米粒徑分析應(yīng)用于樣品穩(wěn)定性的分析研究

溫度和其他變量可以直接影響粒度分析的結(jié)果。可惜的是市場上大多數(shù)納米粒度檢測儀器缺乏相應(yīng)的技術(shù)手段來對樣品進(jìn)行高分辨率辨析及實時監(jiān)測這些變化。他們一般只能給出一個很寬的單峰分布模型，表明此樣品的成分比較復(fù)雜。

解決方案

的Nicomp分析方法可以監(jiān)測隨著時間的推移樣品粒度分布的細(xì)微變化趨勢。通過監(jiān)測粒徑分布的變化和增益現(xiàn)象可以幫助研究人員敏銳地洞察出樣品的特性和穩(wěn)定情況。

開始條件：某膠體在常溫條件（26℃）下測試結(jié)果如圖，當(dāng)溫度上升到（40℃），膠體自身將會發(fā)生降解，粒度降低到100 nm以下。

上圖所示，當(dāng)儀器的控溫系統(tǒng)用了12分鐘，將該膠體樣品升到 40℃，如預(yù)期判斷的，峰值開始變小，Nicomp分析方法得到了兩個峰，一個100 nm主峰，需要注意的是仍然有一小部分在原來的位置329 nm處，這和原始樣品的峰值一樣。

當(dāng)儀器控溫系統(tǒng)升溫到40℃，繼續(xù)保溫15分鐘后，*個峰值繼續(xù)變小，同時Nicomp分析法也看出第二個峰值也變小。